Главная > МПК

Международная патентная классификация

B82Y

Специфическое использование нано-структур; измерение или анализ нано-структур; производство или обработка нано-структур 2011.01

B82Y

Специфическое использование нано-структур; измерение или анализ нано-структур; производство или обработка нано-структур 2011.01

Примечания
(1) Данный подкласс охватывает применение и аспекты нано-структур, которые получены любым способом, а не только путём манипулирования отдельными атомами или молекулами. [2011.01]
(2) Следует обратить внимание на примечание , следующее за заголовком класса B82, в котором приводятся значения терминов "нано-размер", "нано-масштаб" и "нано-структура" для данного подкласса. [2011.01]
(3) Этот подкласс предназначен для обеспечения полного поиска по нано-структурам путём комбинации классификационных символов этого подкласса с классификационными символами других подклассов. Следовательно, этот подкласс охватывает аспекты нано-структур, которые могут быть также полностью или частично проклассифицированы в других местах МПК. [2011.01]
(4) Этот подкласс предназначен для обязательного дополнительного классифицирования тематики, которая уже проклассифицирована как таковая в других классификационных рубриках, например: [2011.01]
B82B Нано-структуры, образованные путём манипулирования атомами, молекулами или ограниченным объёмом атомов или молекул как дискретными объектами; их производство или обработка[2011.01]
A61K 9/51 Нано-капсулы для медицинских препаратов[2011.01]
B05D 1/20 Плёнки Лангмюра-Блоджет[2011.01]
C01B 31/02 Углеродные нано-структуры, например бакиболлы, нано-трубки, нано-катушки, нано-структуры тороидальной или луковичной формы[2011.01]
G01Q Техника сканирующего зонда[2011.01]
G02F 1/017 Оптические квантовые колодцы или ящики[2011.01]
H01F 10/32 Наноструктурированные тонкие магнитные плёнки[2011.01]
H01F 41/30 Молекулярно-пучковая эпитафия[2011.01]
H01L 29/775 Квантовая проволока (FETs)[2011.01]
(5) При присвоении патентному документу классификации классификационные символы данного подкласса не проставляются первыми. [2011.01]
(6) В данном подклассе применяется многоаспектное классифицирование; при этом аспекты тематики, которые охватываются более, чем одной из его групп, должны классифицироваться в каждой из этих групп. [2011.01]
Полная расшифровка кода МПК B82Y:
Код МПК B82Y / Международная патентная классификация / Специфическое использование нано-структур; измерение или анализ нано-структур; производство или обработка нано-структур 2011.01

Поиск

Поиск по ИНН

Проверка контрагента

Конвертеры

Изменения классификаторов

Классификаторы общероссийские

Классификаторы международные

Справочники

© classinform.ru | Контакты
Политика в отношении обработки и защиты персональных данных

Рейтинг@Mail.ru