Международная патентная классификация
G01N 22/02
Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот .обнаружение локальных дефектов
G01N 22/02
.обнаружение локальных дефектов
Полная расшифровка кода МПК G01N 22/02:
Код МПК G01N 22/02 / Международная патентная классификация / Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот .обнаружение локальных дефектов
Код МПК G01N 22/02 / Международная патентная классификация / Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот .обнаружение локальных дефектов
Поиск
Поиск по ИНН
Проверка контрагента
Конвертеры
Изменения классификаторов
Классификаторы общероссийские
Классификаторы международные
Справочники