Международная патентная классификация
G01N 23/20
Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения .с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
G01N 23/20
.с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
Полная расшифровка кода МПК G01N 23/20:
Код МПК G01N 23/20 / Международная патентная классификация / Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения .с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
Код МПК G01N 23/20 / Международная патентная классификация / Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения .с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
Поиск
Поиск по ИНН
Проверка контрагента
Конвертеры
Изменения классификаторов
Классификаторы общероссийские
Классификаторы международные
Справочники