Международная патентная классификация
G03F 1/74
Оригиналы для фотомеханического получения текстурированных или фигурных поверхностей, например масок, фотомасок, сеток; бланки фотомасок или пленки для них; контейнеры, специально предназначенные для них; их изготовление .процессы изготовления, не отнесенные к группам G03F 1/20 — G03F 1/50 ..исправление или коррекция дефектов масок ...с помощью потока заряженных частиц , например фокусированного ионного потока
G03F 1/74
...с помощью потока заряженных частиц , например фокусированного ионного потока
Полная расшифровка кода МПК G03F 1/74:
Код МПК G03F 1/74 / Международная патентная классификация / Оригиналы для фотомеханического получения текстурированных или фигурных поверхностей, например масок, фотомасок, сеток; бланки фотомасок или пленки для них; контейнеры, специально предназначенные для них; их изготовление .процессы изготовления, не отнесенные к группам G03F 1/20 — G03F 1/50 ..исправление или коррекция дефектов масок ...с помощью потока заряженных частиц , например фокусированного ионного потока
Код МПК G03F 1/74 / Международная патентная классификация / Оригиналы для фотомеханического получения текстурированных или фигурных поверхностей, например масок, фотомасок, сеток; бланки фотомасок или пленки для них; контейнеры, специально предназначенные для них; их изготовление .процессы изготовления, не отнесенные к группам G03F 1/20 — G03F 1/50 ..исправление или коррекция дефектов масок ...с помощью потока заряженных частиц , например фокусированного ионного потока
Поиск
Поиск по ИНН
Проверка контрагента
Конвертеры
Изменения классификаторов
Классификаторы общероссийские
Классификаторы международные
Справочники