Международная патентная классификация

G11C 29/22

Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы .детектирование или определение местоположения неисправных элементов памяти ..функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания или распределенные испытания ...встроенные (аппаратные) средства самотестирования ....устройства генерирования адреса; устройства для доступа к памяти, например элементы схем адресации .....доступ к последовательным запоминающим устройствам