Международная патентная классификация
G11C 29/40
Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы .детектирование или определение местоположения неисправных элементов памяти ..функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания или распределенные испытания ...встроенные (аппаратные) средства самотестирования ....устройства проверки ответа на запрос .....с использованием методов сжатия данных
G11C 29/40
.....с использованием методов сжатия данных
Полная расшифровка кода МПК G11C 29/40:
Код МПК G11C 29/40 / Международная патентная классификация / Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы .детектирование или определение местоположения неисправных элементов памяти ..функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания или распределенные испытания ...встроенные (аппаратные) средства самотестирования ....устройства проверки ответа на запрос .....с использованием методов сжатия данных
Код МПК G11C 29/40 / Международная патентная классификация / Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы .детектирование или определение местоположения неисправных элементов памяти ..функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания или распределенные испытания ...встроенные (аппаратные) средства самотестирования ....устройства проверки ответа на запрос .....с использованием методов сжатия данных
Поиск
Поиск по ИНН
Проверка контрагента
Конвертеры
Изменения классификаторов
Классификаторы общероссийские
Классификаторы международные
Справочники