Главная > МПК

Международная патентная классификация

H01L 21/105

Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки полупроводниковых приборов или приборов на твердом теле или их частей .изготовление или обработка полупроводниковых приборов или их частей ..приборов, имеющих хотя бы один потенциальный барьер, на котором осуществляется скачкообразное изменение потенциала, или поверхностный барьер, например p-n-переход, обедненный слой, слой с повышенной концентрацией носителей ...приборов с полупроводниковыми подложками, содержащими селен или теллур в несвязанной форме, если они не являются примесями в полупроводниковой подложке из другого материала ....предварительная обработка селена или теллура, наложение их на пластину основания и последующая обработка этой комбинации .....обработка поверхности слоя селена или теллура после придания ему электропроводности

H01L 21/105

.....обработка поверхности слоя селена или теллура после придания ему электропроводности

Полная расшифровка кода МПК H01L 21/105:
Код МПК H01L 21/105 / Международная патентная классификация / Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки полупроводниковых приборов или приборов на твердом теле или их частей .изготовление или обработка полупроводниковых приборов или их частей ..приборов, имеющих хотя бы один потенциальный барьер, на котором осуществляется скачкообразное изменение потенциала, или поверхностный барьер, например p-n-переход, обедненный слой, слой с повышенной концентрацией носителей ...приборов с полупроводниковыми подложками, содержащими селен или теллур в несвязанной форме, если они не являются примесями в полупроводниковой подложке из другого материала ....предварительная обработка селена или теллура, наложение их на пластину основания и последующая обработка этой комбинации .....обработка поверхности слоя селена или теллура после придания ему электропроводности

Поиск

Поиск по ИНН

Проверка контрагента

Конвертеры

Изменения классификаторов

Классификаторы общероссийские

Классификаторы международные

Справочники

© classinform.ru | Контакты
Политика в отношении обработки и защиты персональных данных

Рейтинг@Mail.ru