Международная патентная классификация

G01N 23/202

Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения .с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения ..путем измерения малых углов рассеяния ...с использованием нейтронов