Международная патентная классификация
H01Q 15/10
Устройства для отражения, рефракции и дифракции или поляризации излучаемых антенной волн, например квазиоптические устройства .преломляющие или дифракционные устройства, например линзы, призмы ..содержащие трехразмерную решетку неоднородных участков полного сопротивления, например отверстия в токопроводящих поверхностях или токопроводящих дисках, образующих искусственный диэлектрик
H01Q 15/10
..содержащие трехразмерную решетку неоднородных участков полного сопротивления, например отверстия в токопроводящих поверхностях или токопроводящих дисках, образующих искусственный диэлектрик
Полная расшифровка кода МПК H01Q 15/10:
Код МПК H01Q 15/10 / Международная патентная классификация / Устройства для отражения, рефракции и дифракции или поляризации излучаемых антенной волн, например квазиоптические устройства .преломляющие или дифракционные устройства, например линзы, призмы ..содержащие трехразмерную решетку неоднородных участков полного сопротивления, например отверстия в токопроводящих поверхностях или токопроводящих дисках, образующих искусственный диэлектрик
Код МПК H01Q 15/10 / Международная патентная классификация / Устройства для отражения, рефракции и дифракции или поляризации излучаемых антенной волн, например квазиоптические устройства .преломляющие или дифракционные устройства, например линзы, призмы ..содержащие трехразмерную решетку неоднородных участков полного сопротивления, например отверстия в токопроводящих поверхностях или токопроводящих дисках, образующих искусственный диэлектрик
Поиск
Поиск по ИНН
Проверка контрагента
Конвертеры
Изменения классификаторов
Классификаторы общероссийские
Классификаторы международные
Справочники