Международная патентная классификация
H01Q 15/18
Устройства для отражения, рефракции и дифракции или поляризации излучаемых антенной волн, например квазиоптические устройства .отражающие поверхности; эквивалентные конструкции ..содержащие большое число взаимно наклонных плоских поверхностей, например уголковый рефлектор
H01Q 15/18
..содержащие большое число взаимно наклонных плоских поверхностей, например уголковый рефлектор
Полная расшифровка кода МПК H01Q 15/18:
Код МПК H01Q 15/18 / Международная патентная классификация / Устройства для отражения, рефракции и дифракции или поляризации излучаемых антенной волн, например квазиоптические устройства .отражающие поверхности; эквивалентные конструкции ..содержащие большое число взаимно наклонных плоских поверхностей, например уголковый рефлектор
Код МПК H01Q 15/18 / Международная патентная классификация / Устройства для отражения, рефракции и дифракции или поляризации излучаемых антенной волн, например квазиоптические устройства .отражающие поверхности; эквивалентные конструкции ..содержащие большое число взаимно наклонных плоских поверхностей, например уголковый рефлектор
Поиск
Поиск по ИНН
Проверка контрагента
Конвертеры
Изменения классификаторов
Классификаторы общероссийские
Классификаторы международные
Справочники